從尺寸極小的MEMS傳感器到大尺寸晶圓，甚至整個平板顯示器，檢測期間不會對樣品造成破壞。AxioImagerVario支持的最大樣品高度為254mm，最大橫向樣品空間為300mm，大大拓展了可以測試的樣品范圍。機柱設計確保了良好的穩(wěn)定性。可滿足在潔凈室內檢測晶圓的應用要求。利用驅動Z軸的電動馬達與自動聚焦硬件確保自動調整至理想的聚焦位置。

   潔凈室

   半導體生產和晶圓檢測需要在潔凈室內進行。根據(jù)DINENISO14644-1標準，以每立方米的顆粒數(shù)量和大小將潔凈室劃分成不同等級。AxioImagerVario已通過此標準認證，并滿足5級潔凈室的應用要求。ISO5級潔凈室相當于原先標準FEDSTD209E（1992）的100級。潔凈室套件中包含一個7x物鏡轉盤、一個顆粒保護罩和防噴嚏保護罩。

   半導體專用顯微鏡優(yōu)勢：

   1、具有兩種手動機柱和一種電動機柱（配有符合工業(yè)標準的三個模式控制按鈕）可供選擇，充分利用顯微鏡的最大橫向樣品空間300mmx300mm和最大樣品高度254mm的優(yōu)勢。

   2、AxioImagerVario能通過物鏡轉盤的上下移動來聚焦樣品。這意味著即便是較重的樣品，依然可以獲得高聚焦精度和可重復性。

   3、半導體專用顯微鏡借助硬件自動對焦功能，可以精準快速地聚焦低對比度的反射樣品。

   4、將AxioImagerVario與LSM900結合使用，能夠以高分辨率無接觸地分析敏感樣品。

   5、AxioImagerVario已通過DINENISO14644-1認證，并滿足5級潔凈室的應用要求。